美国ZMIKE 激光测径仪
简要描述：
美国ZMIKE 激光测径仪
产品时间：2020-03-12
ZMIKE台式外形尺寸激光测径仪， 测量精度高，测量速度快，可单次或连续测量，可满足不同测量应用领域。与传统的接触式外形几何尺寸测量比较，BenchMike采用了激光非接触测量原 理。对原始测量数据自动采集、处理，数字显示等技术，降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了测量的精度。友好界面的显示控制软件及多种接口 用于数据及通讯，将使用者从繁重的测量中解放出来。特别是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测量束手无策的被测量任务，BenchMike 可提供满意的测量。
主要特点：
◆ 测量精度高，测量速度快。可满足不同测量应用领域
◆ 丰富的测量模式满足不同的测量应用
◆ 采用了全新数据处理技术，图形用户交互(GUI)界面、快捷按键使测量更直观，操作更便利
◆ 具有测量应用库及自编辑被测量功能，配合夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测量扩充能力
◆ 单点及双点自动校准功能，减少了使用条件的变化对测量的影响，使仪表维护更方便
测量原理：
采用激光扫描原理进行测量，如右图所示，激光发生装置产生的激光，照射在马达驱动的高速旋转棱镜上，通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束，测 试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影，会在光电收集端形成信号的阶跃，阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置等参数。
型 号 测量范围 重复性 线性误差 测量光断面高度 测量光断面景深 光点尺寸 扫描光速率
mm µm µm mm mm µm 次/秒
4025S 0.10 - 25.4 ±0.30 ±0.90 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4025G 0.10 - 25.4 ±0.13 ±0.50 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4050S 0.25 - 50 ±0.50 ±1.50 77.5 ±3 x 50 250 100
4050G 0.25 - 50 ±0.25 ±0.76 77.5 ±3 x 50 250 100
4100HP 2.50 - 100 ±0.30 ±0.8 -- -- 250 500
4120C 2.50 - 112 ±0.50 ±5.0 -- -- 250 500
4120F 0.25 - 115 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
4120HP 0.25 - 115 ±0.50 ±3.8 -- -- 250 500
4130C 0.25 - 130 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
2050 0.36 - 50 ±0.64 ±2.5 -- -- 250 500
2100 1.30 - 100 ±1.50 ±6.4 -- -- 250 500
2140 0.76 - 140 ±5.00 ±20 -- -- 250 500
2190 1.10 - 190 ±7.50 ±25 -- -- 250 500
2330 6.35 - 330 ±12.0 ±76 -- -- 250 500